ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀采用了多項技術：

1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

3 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。

4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

6 DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7 計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

　　ZJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。

主要技術特性

Q 值測量范圍

2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔

固有誤差

≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差

≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍

4.5nH ～ 140mH

電容直接測量范圍

1 ～ 200pF

主電容調節(jié)范圍

18 ～ 220pF

主電容調節(jié)準確度

120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％

信號源頻率覆蓋范圍

100kHz ～ 160MHz

頻率分段 （ 虛擬 ）

100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz

頻率指示誤差

3 × 10 -5 ± 1 個字

信號源頻率范圍

DDS數(shù)字合成 10KHz-60MHz

Q測量范圍

1-1000自動/手動量程

信號源頻率覆蓋比

6000:1

Q分辨率

4位有效數(shù),分辨率0.1

信號源頻率精度

3X10 -5 ±1個字,6位有效數(shù)

Q測量工作誤差

<5%

電感測量范圍

15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH

調諧電容

主電容30-500PF

電感測量誤差

<5%

調諧電容誤差和分辨率

±1.5P或<1%

標準測量頻點

全波段任意頻率下均可測試

Q合格預置范圍

5-1000聲光提示

諧振點搜索

自動掃描

Q量程切換

自動/手動

諧振指針

LCD顯示

LCD顯示參數(shù)

F,L,C,Q,波段等